参与 TRUSTECH 2025 — 探索下一代卡片测试方案

革新触点·引领未来：展示 Contactless Test Station III 和 NFC 测试平台

正文：

法国巴黎 — 2025 年12月2日-4日，盛会即将拉开帷幕。我们诚挚邀请您莅临 TRUSTECH 2025，在 巴黎 Porte de Versailles 会展中心（Paris Expo Porte de Versailles）共同探索下一代卡片与 NFC 测试领域的技术创新。

我们将在 E090 展位为您展示最新一代解决方案： Contactless Test Station III（CTS III）— 专为 NFC 项目而生的前沿测试平台。

不仅如此，我们的专业团队将现场展示 NFC Test Bench 演示，届时您将有机会直接了解如何借助 CTS III 及其配套生态，强化并赋能您的 NFC 创新项目。

此外，您还可通过官网免费领取参观门票，建议提前预约与我们的专家团队会面，探讨定制方案与未来发展机遇。

我们期待在 12 月初与您相聚巴黎，共襄盛会！

 

联系方式／会议预约信息：

• 展会日期：2025 年12月2日-4日
• 地点：法国 巴黎 Porte de Versailles 会展中心
• 展位号：E090
• 预约专家会面：请联系sales@paralink.com.cn